发明名称 液晶面板检测方法
摘要 一种液晶面板检测方法,其是以一质轻柔软且可重复使用的测试薄膜作为触控面板的检测界面,其中,该测试薄膜覆盖于触控面板的保护膜上,而触控面板并置于测试平台上,并以一检测件对触控面板作昼线与按压的检测,因测试薄膜其质轻柔软的特性,检测件其检测力道可较精准传递至触控面板的表面,而具有较佳的检测精度;且因测试薄膜其质轻柔软的特性,于检测时不会在保护膜上留下检测痕迹,故可重复使用于触控面板的检测工作,而具有降低购置测试薄膜的成本优势。
申请公布号 CN101446696A 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200710193763.2 申请日期 2007.11.26
申请人 久正光电股份有限公司 发明人 林经协
分类号 G02F1/13(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 北京北新智诚知识产权代理有限公司 代理人 张爱群
主权项 1. 一种液晶面板检测方法,其特征在于包括以下步骤:准备一适当尺寸的测试薄膜,该测试薄膜是以质轻柔软且耐磨性佳的材质制成,再将一贴设有保护膜的触控面板置于一测试平台上,并将该测试薄膜对应覆盖于该触控面板的保护膜上,以一检测件接触该测试薄膜,以对该触控面板作X向、Y向的昼线检测以及定点的按压检测,其中是以该检测件的检测端头对应该测试薄膜的上表面作上述的昼线与按压,昼线与按压的力道依序经该测试薄膜、该保护膜传达到该触控面板的表面上,而于该触控面板检测完毕后,再将该测试薄膜从该触控面板上移除,并将后续未经检测的一触控面板置放在该检测平台上,再将前述使用过的测试薄膜再覆盖于该未经检测的触控面板上,并执行前述的检测步骤,以完成触控面板的检测工作。
地址 中国台湾台中市