发明名称 一种通过透反式零位光栅产生绝对零位对准标记的方法
摘要 本发明通过透反式零位光栅产生绝对零位对准标记的方法,特征是采用两块经过特殊编码产生零位标记的光栅,将透射光栅放在Z方向上,光束沿着Z方向垂直射入透射光栅;再将反射光栅沿着Z方向安装在透射光栅后面,并平行于透射光栅,光束透过透射光栅后垂直射入反射光栅,经反射光栅反射回来,通过调整反射光栅的相对角度和/或相对位置,使两块光栅完全对准,就可以获得X-Y平面内的绝对零位;在光路上加上分束棱镜,就可通过设置光电接收器接收光信号进行判向和记数,对二维空间中精密位移进行绝对测量和定位;本发明能应用于光刻机中,实现掩模-硅片之间高于20纳米精度的对准,比现有光刻对准技术具有更高的对准精度。
申请公布号 CN100495218C 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200610096028.5 申请日期 2006.09.11
申请人 中国科学技术大学 发明人 黄文浩;叶锡标;周成刚
分类号 G03F9/00(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I 主分类号 G03F9/00(2006.01)I
代理机构 合肥金安专利事务所 代理人 金惠贞
主权项 1、一种通过透反式零位光栅产生绝对零位对准标记的方法,采用下述经过特殊光栅编码方法编码产生零位标记的光栅:该光栅由栅线等宽的透光栅线与不透光栅线任意排列组成,以“0"表示不透光栅线,以“1"表示透光栅线,将整个零位栅线序列以一个数值为0和1的矩阵来表示;设其光信号强度的对比度D=u0/up,其中u0为系统光通量输出的第2最大值,up为系统光通量输出的最大值;使对比度D小到能满足系统分辨率的要求;其特征在于:采用上述光栅编码方法制造出两块光栅,该两块光栅中的对应栅格编码为互补码;其中一块为透射光栅,在玻璃片上加工而成;另一块为反射光栅,在硅片上加工而成;将该两块光栅按如下方式组合:首先将透射光栅垂直于入射光路放置,再把反射光栅安装在与透射光栅所在平面平行的平面上,并与入射光路垂直;调整两块光栅的相对位置使两块光栅完全对准,然后调整两块光栅之间的距离至获得最大的光强信号输出;最后用分束棱镜使反射光沿与入射光路垂直的方向射出,并利用光电接收器接收,对光电接收器接收的光信号进行判向和记数,即可对二维空间位置进行绝对测量和定位。
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