| 发明名称 | 磁性检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种小型的、低成本、低能耗的磁性检测装置。为了达到该目的，相对于提供磁阻效应的磁阻元件(1)通过整体地形成包括偏压线圈(4)和负反馈线圈(5)的树脂结构，该磁阻检测装置能降低元件(1)与线圈(4)和(5)之间的磁阻，因而，能够对具有降低能耗的元件(1)提供偏磁场和负反馈磁场。 | ||
| 申请公布号 | CN100495044C | 申请公布日期 | 2009.06.03 |
| 申请号 | CN02810773.X | 申请日期 | 2002.06.04 |
| 申请人 | 富士电机株式会社 | 发明人 | 工藤隆裕;北出雄二郎 |
| 分类号 | G01R15/14(2006.01)I | 主分类号 | G01R15/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙 淳 |
| 主权项 | 1、一种磁性检测装置，其特征在于，包括：由多个端子和与所述多个端子中的第一端子间接合的具有磁阻效应的薄膜状磁阻元件通过树脂模制成型形成为一体的线轴；用于对所述薄膜状磁阻元件施加偏磁场，卷绕在所述线轴上，且与所述多个端子中的第二端子间接合的偏置线圈；和用于对所述薄膜状磁阻元件施加负反馈磁场，卷绕在所述线轴上，且与所述多个端子中的第三端子间接合的负反馈线圈，所述线轴、所述偏置线圈、所述负反馈线圈和所述多个端子通过树脂模制成型被形成为一体。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县 | ||