发明名称 一种大型测试激励高效模拟验证装置
摘要 本装置应用于基于参考模型验证的处理器芯片级验证中,用于提高大型测试激励(运行指令数>10<sup>6</sup>条,如大型伪随机激励、操作系统及典型用户课题等)的模拟验证效率。本装置充分结合了参考模型(Reference Model)运行速度快、可靠性高,以及寄存器传输级(Register Transfer Level,RTL)模型结构时序精确、易于差错调试等优点,采用保留恢复原理,以处理器软件可见状态作为保留恢复内容,实现了参考模型与RTL级模型间快速灵活的状态切换和接力运行(见附图),让用户在大型测试激励模拟验证中能够集中精力于验证热点,节省不必要的初始运行或中间运行过程,很好地解决了由于RTL级模型运行速度慢导致的大型测试激励模拟时间过长(数小时到数天不等)、调试查错费时费力等问题。同时,本装置也为大型测试激励模拟结果提供了正确性确认机制。
申请公布号 CN101446986A 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200710094299.1 申请日期 2007.11.27
申请人 上海高性能集成电路设计中心 发明人 朱英;陈诚
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1、处理器大型测试激励高效模拟验证装置,其特征在于处理器参考模型和处理器RTL级设计模型之间,通过处理器软件可见状态信息进行保留和恢复,实现两个模型之间(图1,图2)或是模型自身(图3,图4)的状态切换和接力运行。商用模拟器的保留恢复功能,只能在该模拟器的同一RTL级模型间进行保留恢复,灵活性差。
地址 201204上海市浦东新区张衡路428号