发明名称 液晶显示面板坏点检测及定址方法
摘要 本发明涉及一种液晶显示面板坏点检测及定址方法,用于检测并定址一液晶显示面板上的坏点,其步骤包含定位该液晶显示面板、提供一显示信号使该液晶显示面板显示坏点、移动一具有定址功能的影像撷取装置,使坏点进入该影像撷取装置视野范围并于一屏幕显示出来、通过该影像撷取装置上的屏幕光标点标示坏点中心,以计算取得坏点位置、于屏幕显示计算取得的坏点位置,并经确认后加以记录。
申请公布号 CN101446695A 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200710167362.X 申请日期 2007.11.26
申请人 均豪精密工业股份有限公司 发明人 蔡瑞彬;吴政鸿;黄俊荣
分类号 G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 章社杲;吴贵明
主权项 1. 一种液晶显示面板坏点检测及定址方法,用于检测并定址液晶显示面板(10)上的坏点(12),其特征在于,步骤包含:定位所述液晶显示面板(10),以得知所述液晶显示面板(10)的精确位置;提供显示信号使所述液晶显示面板(10)显示所述坏点(12);移动具有定址功能的影像撷取装置(20),使所述坏点(12)进入所述影像撷取装置(20)视野范围并于屏幕(30)显示出来,且所述影像撷取装置(20)设有可计算取得相对所述影像撷取装置(20)的位置信息的屏幕光标点(31);将所述屏幕光标点(31)移至标示坏点(12)中心,以计算取得所述坏点(12)的精确位置;于所述屏幕(30)显示计算取得的坏点(12)位置,并经确认后加以记录。
地址 中国台湾新竹县