发明名称 芯片焊接质量检测仪
摘要 本实用新型公开了一种芯片焊接质量检测仪,包括工作台、显示器、光源、摄像机、放大镜组和光学反光镜,摄像机连接在工作台支架上,显示器和摄像机信号连接,放大镜组连接在摄像机上,光源和光学反光镜设于工作台上。通过光源从两侧照射贴装芯片焊点空间,光学反光镜利用光通道从水平方向采集焊点轮廓图像信息,经放大镜组放大后由摄像机传送到显示器中,从而在显示器上可以方便、清晰的观察到焊点成型后的图像,判断焊点焊接质量,以便进一步调整、控制贴装过程。整个操作过程简单、灵活,图像轮廓清晰,占用空间小、使用成本低,特别适于对BGA类芯片进行焊点成型后的检测。
申请公布号 CN201251555Y 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200820110260.4 申请日期 2008.08.28
申请人 赵永先 发明人 赵永先
分类号 G01N21/956(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/956(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1、一种芯片焊接质量检测仪,其特征在于,包括工作台、光源、显示器、摄像机、放大镜组和光学反光镜,所述摄像机连接在工作台支架上,摄像机和显示器之间相互信号连接;所述光源和光学反光镜设于工作台上,放大镜组连接在摄像机上;所述光学反光镜从侧面水平采集芯片焊点图像信息,经放大镜组放大后通过摄像机显示到显示器上。
地址 733000甘肃省武威市东大街发展巷25-1-231号