发明名称 基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置
摘要 一种基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置,包括一单色发光二极管的面光源,自该单色发光二极管面光源沿光路依次是散射板、第一分光板、标准样板和待检测元件,在所述的第一分光板由标准镜的返回光的反射光路上,依次是第二分光板、物镜和光电探测器,在所述的第二分光板的反射光路上有观察窗口。本发明的测量结果既可人工识别,又可通过计算机进行判读。本发明装置具有装置轻便、节能、成本低廉、应用广泛、可批量生成等特点,能方便地应用于批量的光学加工过程中的质量控制。
申请公布号 CN100494944C 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200610116577.4 申请日期 2006.09.27
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 李永国;朱健强
分类号 G01M11/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1、一种基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置,其特征在于包括一单色发光二极管的面光源(9),自该单色发光二极管面光源(9)沿光路依次是散射板(10)、第一分光板(11)、标准样板(12)和待测元件(13),在所述的第一分光板(11)由标准样板(12)的返回光的反射光路上,依次是第二分光板(17)、物镜(14)和光电探测器(15),在所述的第二分光板(17)的反射光路上有观察窗口(16)。
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