发明名称 Reinigungsvorrichtung und Reinigungsverfahren
摘要 Eine Reinigungsvorrichtung reinigt einen Umfangsteil eines zu bearbeitenden Substrats W. Die Reinigungsvorrichtung enthält einen ersten Reinigungsteil 11, der konfiguriert ist, um mit einem Umfangsteil der Vorderoberfläche Wa des zu bearbeitenden Substrats W in Kontakt gebracht zu werden und in einer Richtung in der Ebene des zu bearbeitenden Substrats W gedreht zu werden, und einen zweiten Reinigungsteil, der konfiguriert ist, um mit einem Umfangsteil einer Rückoberfläche Wb des zu bearbeitenden Substrats W in Kontakt gebracht zu werden und in der Richtung in der Ebene des zu bearbeitenden Substrats W gedreht zu werden. Eine Reibungskraft, die von dem zweiten Reinigungsteil 12 auf die Rückoberfläche Wb des zu bearbeitenden Substrats W aufzubringen ist, ist größer als eine Reibungskraft, die von dem ersten Reinigungsteil 11 auf die Vorderoberfläche Wa des zu bearbeitenden Substrats aufzubringen ist.
申请公布号 DE102008058429(A1) 申请公布日期 2009.05.28
申请号 DE200810058429 申请日期 2008.11.21
申请人 TOKYO ELECTRON LTD. 发明人 ORII, TAKEHIKO
分类号 H01L21/302;H01L21/306 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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