发明名称 Procédé pour la mesure, par voie photo-électrique, de la position d'un trait d'une graduation et installation pour la mise en oeuvre dudit procédé
摘要
申请公布号 FR63667(E) 申请公布日期 1955.09.30
申请号 FRD63667 申请日期 1953.01.10
申请人 SOCIETE GENEVOISE D'INSTRUMENTS DE PHYSIQUE 发明人
分类号 G01B11/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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