| 发明名称 | 一种结构光条纹中心快速高精度提取方法 | ||
| 摘要 | 本发明属于测量技术，涉及对结构光条纹中心提取方法的改进。其步骤是：将图像z(x，y)与微分形式的高斯核卷积，分别得到r<sub>x</sub>，r<sub>y</sub>，r<sub>xx</sub>，r<sub>xy</sub>，r<sub>yy</sub>；利用高斯函数的可分离性，将对图像的二维卷积转化为一维卷积；利用递归方法实现高斯一维卷积；求解Hessian矩阵的特征值和特征向量，得到线条的法线方向(n<sub>x</sub>，n<sub>y</sub>)；根据泰勒展开求解光条纹中心的亚像素坐标。本发明在不牺牲精度和鲁棒性的前提条件下，大大减小了运算量，实现了结构光条纹中心线的快速提取，为算法的实时应用奠定了基础。 | ||
| 申请公布号 | CN100491899C | 申请公布日期 | 2009.05.27 |
| 申请号 | CN200510123724.6 | 申请日期 | 2005.11.22 |
| 申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 周富强;张广军;江洁;胡坤 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G06T17/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国航空专利中心 | 代理人 | 梁瑞林 |
| 主权项 | 1、一种结构光条纹中心快速提取方法，其特征在于， | ||
| 地址 | 100083北京市海淀区学院路37号 | ||