发明名称 |
一种立方氮化硼薄膜n型掺杂的方法 |
摘要 |
本发明是一种立方氮化硼(c-BN)薄膜n型掺杂的方法,该方法具体包括首先利用离子束辅助沉积(Ion Beam Assisted Depostion,IBAD)方法制备高质量的c-BN薄膜,然后依次注入不同能量(50,80及100keV)的硫(S)离子(总剂量为5×10<sup>14</sup>cm<sup>-2</sup>)进入c-BN薄膜,最终实现c-BN薄膜的n型掺杂。该方法对c-BN薄膜的生长设备没有特殊要求,具有掺杂剂量和掺杂的深度可以精确控制、成本低、方法简便、使用广泛、可移植性好等优点。 |
申请公布号 |
CN101441997A |
申请公布日期 |
2009.05.27 |
申请号 |
CN200710177783.0 |
申请日期 |
2007.11.21 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
张兴旺;范亚明;陈诺夫 |
分类号 |
H01L21/18(2006.01)I;H01L21/203(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/18(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1. 一种立方氮化硼薄膜n型掺杂的方法,其特征在于,材料的制备方法包括:1)采用离子束辅助沉积在衬底上沉积制备立方氮化硼薄膜;2)采用高能离子注入的方式将硫离子注入到立方氮化硼薄膜内部;3)采用热退火来消除损伤并激活杂质,从而实现对立方氮化硼薄膜的n型掺杂。 |
地址 |
100083北京市海淀区清华东路甲35号 |