发明名称 一种立方氮化硼薄膜n型掺杂的方法
摘要 本发明是一种立方氮化硼(c-BN)薄膜n型掺杂的方法,该方法具体包括首先利用离子束辅助沉积(Ion Beam Assisted Depostion,IBAD)方法制备高质量的c-BN薄膜,然后依次注入不同能量(50,80及100keV)的硫(S)离子(总剂量为5×10<sup>14</sup>cm<sup>-2</sup>)进入c-BN薄膜,最终实现c-BN薄膜的n型掺杂。该方法对c-BN薄膜的生长设备没有特殊要求,具有掺杂剂量和掺杂的深度可以精确控制、成本低、方法简便、使用广泛、可移植性好等优点。
申请公布号 CN101441997A 申请公布日期 2009.05.27
申请号 CN200710177783.0 申请日期 2007.11.21
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 张兴旺;范亚明;陈诺夫
分类号 H01L21/18(2006.01)I;H01L21/203(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I 主分类号 H01L21/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 周国城
主权项 1. 一种立方氮化硼薄膜n型掺杂的方法,其特征在于,材料的制备方法包括:1)采用离子束辅助沉积在衬底上沉积制备立方氮化硼薄膜;2)采用高能离子注入的方式将硫离子注入到立方氮化硼薄膜内部;3)采用热退火来消除损伤并激活杂质,从而实现对立方氮化硼薄膜的n型掺杂。
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