发明名称 |
测试至少一个电子控制系统的测试设备以及操作测试设备的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种测试至少一个电子控制系统(1)的测试设备(2)和用于操作测试设备的相应方法,其中具有一个可编址的物理存储器,测试设备(2)适合且被设置为通过数据通道与待测试的控制系统(1)建立连接。测试设备还适合且被设置为计算至少一个环境模型(21)和执行至少一个测试模型(22)。其中环境模型(21)可以通过环境模型变量来描述,环境模型变量按固定的物理地址存储在存储器的存储位置处。测试设备(2)还包括一个对应单元(23),在该单元中以可读取的方式存储了所有或部分环境模型变量与存储器的相应物理地址之间的对应关系。 |
申请公布号 |
CN101441473A |
申请公布日期 |
2009.05.27 |
申请号 |
CN200810175669.9 |
申请日期 |
2008.06.20 |
申请人 |
帝斯贝思数字信号处理和控制工程有限公司 |
发明人 |
N·布鲁斯基;R·G·伯格;R·雷恩费尔纳;E·米勒;T·沃尔弗 |
分类号 |
G05B23/02(2006.01)I;G05B19/05(2006.01)I;G01M17/00(2006.01)I;G06F12/02(2006.01)I;G06F19/00(2006.01)I |
主分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
赵 冰 |
主权项 |
1. 一种用于测试至少一个电子控制系统(1)的测试设备(2),-其中测试设备具有可编址的物理存储器,-其中测试设备(2)适合且被设置为通过数据通道与待测试的控制系统(1)建立连接,计算至少一个环境模型(21)并执行至少一个测试模型(22),-其中环境模型(21)能够通过将环境模型数据输出给控制系统(1)并通过接收来自控制系统(1)的控制系统数据,经由数据通道交互作用,-其中测试模型(22)能够被执行以影响环境模型(21)、影响环境模型(21)的计算和/或影响电子控制系统(1),-其中环境模型(21)还通过环境模型变量来描述,所述环境模型变量利用可编址的物理存储器按固定的物理地址存储在存储位置处,-其中测试设备(2)适合且被设置为用于更改所述环境模型变量,其特征在于,测试设备(2)包括对应单元(23),在该对应单元中以可读取的方式存储至少一个环境模型变量与存储器的至少一个相应物理地址之间的对应关系。 |
地址 |
德国帕德博恩 |