发明名称 光信息检测方法、光信息检测器、数据采样方法
摘要 提供了一种光信息检测方法、光信息检测器、数据采样方法。该光信息检测方法包括以下步骤:通过使用1∶N过量检测像素,对以均衡码字编码的源数据页的图像进行检测,其中N大于1;通过使用被检测图像的光强分布,确定被检测图像中的有效检测像素和待校正的无效检测像素的分布模式;以及将被检测图像分成与所述均衡码字相对应的多个均衡码字检测区,并通过使用确定的分布模式和所述均衡码字的光分布特性,对所述多个均衡码字检测区的数据进行采样。因此,可以通过使用1∶N过采样方法对光信息进行高效的检测。具体来说,可以正确地使用数据页的被检测图像中的有效检测像素和无效检测像素的分布模式,来对均衡码进行采样。
申请公布号 CN100492501C 申请公布日期 2009.05.27
申请号 CN200610107414.X 申请日期 2006.07.20
申请人 大宇电子株式会社 发明人 尹弼相;金学善;黄义石
分类号 G11B7/0065(2006.01)I;G11B7/13(2006.01)I;G03H1/22(2006.01)I 主分类号 G11B7/0065(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 李 辉
主权项 1、一种光信息检测方法,包括以下步骤:通过使用1:N过量检测像素,对以均衡码字编码的源数据页的图像进行检测,其中N为大于1的实数;通过使用被检测图像的光强分布,确定被检测图像中的有效检测像素和待校正的无效检测像素的分布模式;将被检测图像分成与所述均衡码字相对应的多个均衡码字区域;基于所述均衡码字的光强分布,将所述多个均衡码字区域中的检测像素分类成有效检测像素和无效检测像素;以及对有效检测像素的值进行采样,并通过预定计算对无效检测像素的值进行校正和采样,其中,计算多个所述无效检测像素和相邻数据像素的光信息的影响度,以对由所述多个无效检测像素检测的数据像素的值进行检测,然后对其它数据像素的光信息进行检测;和与检测到的所述其它数据像素的光信息相比,对所述其它数据像素的亮/暗值进行检测。
地址 韩国首尔