摘要 |
Gerador Parametrizável de Ruído Eletromagnético Conduzido para Teste de Circuitos Integrados. A presente invenção proporciona um equipamento de pré-teste para a certificação de equipamentos eletrónicos, através da geração de um sinal de ruído eletromagnético conduzido controlado na entrada de dados ou de alimentação de sistemas eletrónicos em fase de desenvolvimento, O equipamento da invenção proporciona, portanto, a redução do tempo e o custo de projeto de equipamentos eletrónicos, que em sua maioria, são projetados nas empresas sem levar em consideração nenhum parâmetro de compatibilidade eletromagnética.
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