PROCEDE ET DISPOSITIF POUR L'INVERSION INTERFEROMETRIQUE A ECHANTILLONNAGE LIBRE

摘要

L'invention concerne selon un premier aspect un procédé d'inversion interférométrique pour la caractérisation d'une source de rayonnement et/ou d'un milieu traversé par le rayonnement entre la source et un interféromètre, l'interféromètre étant apte à élaborer un interférogramme du rayonnement en créant un nombre fini de différences de marche optique entre deux rayons ayant suivi le même chemin entre la source et l'interféromètre, caractérisé en ce qu'on échantillonne l'interférogramme en sélectionnant des différences de marche optique dont la contribution lors de l'inversion d'une variable caractéristique de la source et/ou du milieu est déterminée comme étant influente. Selon un second aspect, l'invention prévoit un interféromètre pour la mise en oeuvre du procédé selon le premier aspect de l'invention.