辐射检测装置及方法

摘要

根据一实施例公开了一种装置。该计算机装置包括第一集成电路(IC)和第二IC。第二IC(150)包括软差错率(SER)不敏感组件(240至275)以及用于检测会导致第一IC的逻辑处的软差错的辐射的SER组件(210，220，230)。

主权项

1. 一种用于检测辐射的装置，包括：第一集成电路；以及第二集成电路，所述第二集成电路具有：一个或多个逻辑组件，所述逻辑组件具有高软差错率以检测导致所述第一集成电路处的逻辑的软差错的辐射，所述逻辑组件包括：第一软差错率敏感存储器阵列，用于检测α粒子轰击；第二软差错率敏感存储器阵列，用于检测中子粒子轰击；以及一个或多个软差错率不敏感组件，用于分析从所述一个或多个逻辑组件中接收的数据，所述软差错率不敏感组件包括：非易失性存储器，用于存储所述第一软差错率敏感存储器阵列和第二软差错率敏感存储器阵列的预期的软差错率数据；以及控制逻辑，用于通过比较所接收的数据和所述预期的数据来检验从所述第一软差错率敏感存储器阵列和第二软差错率敏感存储器阵列接收的数据。