发明名称 | 制造半导体器件结构的方法 | ||
摘要 | 描述了一种制造半导体器件双嵌入结构的方法。在扩散阻挡层汽相淀积在形成在衬底中的沟槽或通孔中的过程中,使用了基于卤素的前驱体。来自淀积的残余卤素被允许保留在该阻挡层上并且用于催化金属层在该阻挡层上的生长以填充该沟槽或通孔。 | ||
申请公布号 | CN101438390A | 申请公布日期 | 2009.05.20 |
申请号 | CN200680034842.2 | 申请日期 | 2006.09.15 |
申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 维姆·贝斯林 |
分类号 | H01L21/285(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/285(2006.01)I |
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈 源;张天舒 |
主权项 | 1. 一种制造半导体器件结构的方法,在该方法中,在衬底上淀积第一材料层的过程中,使用基于卤素的前驱体,以及其中使用来自所述淀积的残余卤素以催化在所述第一层上的第二材料层的生长。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |