微分析芯片的高通量连续换样装置及其使用方法

摘要

本发明涉及一种应用于微分析芯片上的高通量连续换样装置及其使用方法，该装置的特征是，连续换样装置由芯片取样探针和加工有供探针进出的缺口的试样管阵列组成。本发明的优点是在微分析芯片上实现高通量快速的换样操作，系统结构简单，体积小，容易实现自动化操作，分析通量高。

主权项

1、一种用于微分析芯片上的高通量连续换样装置，该装置由加工有取样探针的微分析芯片和可移动的试样管阵列组成，微芯片由上(1)、下(2)基片组成，封合的上(1)、下(2)之间加工有微通道(3)网络，其特征在于，将毛细管与芯片微通道(3)耦合连接，构成取样探针(4)，试样管(5)上加工有供芯片取样探针进出的取样缺口(6)，通过两个或两个以上的规则排列的单列试样管阵列相对取样探针，按一定顺序进行一维移动，完成高通量连续换样操作。