发明名称 |
基板处理装置 |
摘要 |
本发明涉及一种基板处理装置,其特征在于包括:一种基板处理装置,其特征在于包括:反应容器,包括处理室和电极室,所述电极室与所述处理室相分离,所述电极室容纳有一对电极,和多个待叠层的基板容纳在所述处理室中;和供气件,将处理气提供进所述电极室,所述供气件包括多个供气口,其中所述对电极沿所述多个基板的叠层方向延伸,所述电极设置在所述多个基板的一侧,高频电源被提供给所述电极。 |
申请公布号 |
CN101435074A |
申请公布日期 |
2009.05.20 |
申请号 |
CN200810179581.4 |
申请日期 |
2003.04.04 |
申请人 |
株式会社日立国际电气 |
发明人 |
绀谷忠司;丰田一行;佐藤武敏;加贺谷徹;嶋信人;石丸信雄;境正宪;奥田和幸;八木泰志;渡边诚治;国井泰夫 |
分类号 |
C23C16/455(2006.01)I;C23C16/452(2006.01)I;C23C16/458(2006.01)I;H01J37/32(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/455(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
郭 放 |
主权项 |
1、一种基板处理装置,其特征在于包括:反应容器,包括处理室和电极室,上述电极室与上述处理室相分离,上述电极室容纳有一对电极,和多个待叠层的基板容纳在上述处理室中;和供气件,将处理气提供进上述电极室,上述供气件包括多个供气口,其中上述一对电极沿上述多个基板的叠层方向延伸,上述电极设置在上述多个基板的一侧,高频电源被提供给上述电极。 |
地址 |
日本东京都 |