| 发明名称 | 测定系统和方法 | ||
| 摘要 | 一种测定系统，包括：至少一个第一测定装置(IA)，将其配置成测定一种或多种样品，并提供至少一个测定结果；以及至少一个分配系统(10)，将其配置成将至少一个第二测定装置(IB)分配给至少第一测定装置(IA)的使用者。本发明还涉及一种测定方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101438289A | 申请公布日期 | 2009.05.20 |
| 申请号 | CN200780016424.5 | 申请日期 | 2007.05.02 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | M·P·博德拉恩德;W·J·J·斯图特;E·P·N·达门 |
| 分类号 | G06F19/00(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I;G06Q50/00(2006.01)I | 主分类号 | G06F19/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 王 英 |
| 主权项 | 1、一种测定系统，包括：-至少一个第一测定装置(1A)，将其配置成测定一种或多种样品，并提供至少一个测定结果；其中，所述测定系统的特征在于：-至少一个分配系统(10)，将其配置成将至少一个第二测定装置(1B)分配给第一测定装置(1A)的使用者。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||