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发明名称
METHOD OF VERIFYING LAYOUT DESIGNED FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号
KR20090050733(A)
申请公布日期
2009.05.20
申请号
KR20070117340
申请日期
2007.11.16
申请人
HYNIX SEMICONDUCTOR INC.
发明人
NAM, BYUNG HO
分类号
H01L21/027;H01L21/66
主分类号
H01L21/027
代理机构
代理人
主权项
地址
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