首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 MEASURING APPARATUS AND METHOD OF NANO-WIRE PHYSICAL PROPERTIES
摘要
申请公布号 KR20090049847(A) 申请公布日期 2009.05.19
申请号 KR20070116170 申请日期 2007.11.14
申请人 KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE 发明人 NAHM, SEUNG HOON;JANG, HOON SIK;LEE, YOON HEE;KIM, AM KEE
分类号 G01N3/08;G01N3/00 主分类号 G01N3/08
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com