发明名称 形成半导体元件之方法
摘要 本发明揭示一种形成半导体元件之方法,包含提供一基板;形成至少一第一开口于基板至一预定深度,并在第一开口内暴露出基板之一侧壁;形成一间隙壁于侧壁上,并暴露出第一开口底部之部分基板;以间隙壁为遮罩,蚀刻第一开口底部暴露之部分基板,以形成一第二开口;形成一绝缘材料层填满第二开口及部分第一开口;去除间隙壁以形成一凹陷;形成一闸极氧化层于基板表面;以及形成一导体层覆盖基板。
申请公布号 TW200921851 申请公布日期 2009.05.16
申请号 TW096142982 申请日期 2007.11.14
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 蔡鸿明;庄英政
分类号 H01L21/8242(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L21/8242(2006.01)
代理机构 代理人 蔡玉玲
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号