发明名称 | 形成半导体元件之方法 | ||
摘要 | 本发明揭示一种形成半导体元件之方法,包含提供一基板;形成至少一第一开口于基板至一预定深度,并在第一开口内暴露出基板之一侧壁;形成一间隙壁于侧壁上,并暴露出第一开口底部之部分基板;以间隙壁为遮罩,蚀刻第一开口底部暴露之部分基板,以形成一第二开口;形成一绝缘材料层填满第二开口及部分第一开口;去除间隙壁以形成一凹陷;形成一闸极氧化层于基板表面;以及形成一导体层覆盖基板。 | ||
申请公布号 | TW200921851 | 申请公布日期 | 2009.05.16 |
申请号 | TW096142982 | 申请日期 | 2007.11.14 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 蔡鸿明;庄英政 |
分类号 | H01L21/8242(2006.01);H01L21/336(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8242(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 蔡玉玲 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |