发明名称 非挥发性记忆体及其制造方法
摘要 一种非挥发性记忆体的制造方法。首先,在基底上依序形成绝缘层、导体材料层与研磨终止层。然后,在研磨终止层、导体材料层、绝缘层与部分基底中形成多个沟渠,并将导体材料层切割成多个导体块。继之,形成介电材料层,覆盖研磨终止层且填满沟渠。接着,进行一化学研磨制程,直至曝露出研磨终止层表面。之后,移除部分介电材料层,以形成多个沟渠隔离结构。随后,移除每一个导体块所曝露出来的部分侧壁,以形成多个浮置闸极。其中,每一个浮置闸极的宽度自其底部往顶部递减。
申请公布号 TW200921854 申请公布日期 2009.05.16
申请号 TW096141209 申请日期 2007.11.01
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 魏鸿基;朱建隆;毕嘉慧
分类号 H01L21/8247(2006.01);H01L27/115(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号