发明名称 | 非挥发性记忆体及其制造方法 | ||
摘要 | 一种非挥发性记忆体的制造方法。首先,在基底上依序形成绝缘层、导体材料层与研磨终止层。然后,在研磨终止层、导体材料层、绝缘层与部分基底中形成多个沟渠,并将导体材料层切割成多个导体块。继之,形成介电材料层,覆盖研磨终止层且填满沟渠。接着,进行一化学研磨制程,直至曝露出研磨终止层表面。之后,移除部分介电材料层,以形成多个沟渠隔离结构。随后,移除每一个导体块所曝露出来的部分侧壁,以形成多个浮置闸极。其中,每一个浮置闸极的宽度自其底部往顶部递减。 | ||
申请公布号 | TW200921854 | 申请公布日期 | 2009.05.16 |
申请号 | TW096141209 | 申请日期 | 2007.11.01 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 魏鸿基;朱建隆;毕嘉慧 |
分类号 | H01L21/8247(2006.01);H01L27/115(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8247(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |