发明名称 Verfahren und System zum Vermessen einer Oberfläche eines Objektes
摘要 Verfahren und Systeme zum Vermessen einer Oberfläche eines Objekts sind bereitgestellt, wobei Teile der Oberfläche des Objekts interferometrisch vermessen werden und eine Form der Oberfläche des Objekts repräsentierende Daten durch Zusammennähen (stitching together) der jedem Teil entsprechenden Messdaten erhalten werden. Zum Vermessen der individuellen Teile der Oberfläche des Objekts wird ein variabler Lichtformer benutzt, welcher vorzugsweise durch Anordnen zweier Beugungsgitter in einem Strahlengang von Messlicht konstruiert ist, und wobei die beiden Beugungsgitter geeignet relativ zueinander abhängig von einer Zielform eines bestimmten Teils der Oberfläche des Objekts verlagert werden.
申请公布号 DE102008048844(A1) 申请公布日期 2009.05.14
申请号 DE20081048844 申请日期 2008.09.25
申请人 CARL ZEISS SMT AG 发明人 DOERBAND, BERND
分类号 G01B9/02;G01B11/24 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
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