发明名称 |
成分测量装置 |
摘要 |
一种成分测量装置,包括:组件安装部,可自由拆装地安装具有试验部位的组件;测光部,具有在进行测量时向组件的试验部位投射光的发光元件、对由试验部位反射的反射光进行受光的受光元件以及收纳、保持发光元件和受光元件的支持件;以及具有遮光性的测试组件,可自由拆装地安装在组件安装部上,在支持件中形成有光和反射光通过的通道,在支持件的面向试验部位的部分设置有透光性部件,具有污物检测装置,在组件安装部上安装了测试组件的状态下,从测光部的发光元件投射光,由受光元件受光,根据该受光元件的受光光量,检测透光性部件的污物,污物检测装置在透光性部件的污物检测中,当受光元件的受光光量大于阈值时判断为在透光性部件上存在污物。 |
申请公布号 |
CN101430286A |
申请公布日期 |
2009.05.13 |
申请号 |
CN200810186920.1 |
申请日期 |
2004.05.21 |
申请人 |
泰尔茂株式会社 |
发明人 |
近藤晃;长泽靖 |
分类号 |
G01N21/78(2006.01)I;G01N33/52(2006.01)I;G01N33/66(2006.01)I;G01N31/22(2006.01)I;G01N21/86(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 |
代理人 |
王茂华;于英慧 |
主权项 |
1. 一种成分测量装置,通过对试验部位进行测色来测量检体中的预定成分的量和/或性质,其特征在于,包括:组件安装部,可自由拆装地安装具有上述试验部位的组件;测光部,具有在进行上述测量时向上述组件的上述试验部位投射光的发光元件、对由上述试验部位反射的反射光进行受光的受光元件、以及收纳、保持上述发光元件和上述受光元件的支持件;以及具有遮光性的测试组件,该测试组件可自由拆装地安装在上述组件安装部上,其中,在上述支持件中形成有上述光和上述反射光通过的通道,在上述支持件的面向上述试验部位的部分,设置有透光性部件,具有污物检测装置,在上述组件安装部上安装了上述测试组件的状态下,从上述测光部的上述发光元件投射光,由上述受光元件受光,根据该受光元件的受光光量,检测上述透光性部件的污物,上述污物检测装置,在上述透光性部件的污物检测中,当上述受光元件的受光光量大于阈值时,判断为在上述透光性部件上存在污物。 |
地址 |
日本东京都 |