| 发明名称 | 用于组分颗粒分析的光谱方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及使用物质的光谱性质评价物质颗粒的一种或多种几何性质的方法。该方法例如可用于在含有该物质和其它材料的颗粒的混合物中评价粒径和粒径分布。 | ||
| 申请公布号 | CN101432606A | 申请公布日期 | 2009.05.13 |
| 申请号 | CN200580029223.X | 申请日期 | 2005.06.30 |
| 申请人 | 化学影像公司 | 发明人 | M·P·纳尔逊;P·特里多;J·阿塔努茨 |
| 分类号 | G01J3/44(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 段晓玲;邹雪梅 |
| 主权项 | 1. 一种量化样品中物质颗粒的几何性质的方法，该方法包括照射样品，产生该样品的第一化学图像，和使用图像处理技术量化几何性质。 | ||
| 地址 | 美国宾夕法尼亚州 | ||