发明名称 基于负微分迁移率的平面纳米电磁辐射器结构
摘要 本发明公开了一种基于负微分迁移率的平面纳米电磁辐射器结构,其由下往上依次包括绝缘衬底、具负微分迁移率的有源层及绝缘保护层,有源层的两侧还分别设有侧面电极,该有源层包括位于有源层左右两端的低电阻区域、位于有源层中间的电场强度分布不均匀的高电阻区域,且两低电阻区域通过高电阻区域相连通。该器件具有工艺简单、易于集成、功率高、热性能好等优点。
申请公布号 CN101431106A 申请公布日期 2009.05.13
申请号 CN200810219701.9 申请日期 2008.12.05
申请人 中山大学 发明人 王 钢;宋爱民;许坤远
分类号 H01L29/861(2006.01)I;H01L29/772(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I 主分类号 H01L29/861(2006.01)I
代理机构 广州粤高专利代理有限公司 代理人 禹小明
主权项 1、一种基于负微分迁移率的平面纳米电磁辐射器结构,其由下往上依次包括绝缘衬底、有源层及绝缘保护层,有源层的两侧还分别设有侧面电极,其特征在于:该有源层由具有负微分迁移率的材料制成,它包括位于有源层左右两端的低电阻区域、位于有源层中间的电场强度分布不均匀的高电阻区域,且两低电阻区域通过高电阻区域相连通。
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