使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备及方法

摘要

本发明涉及使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备及方法，属于光学测量技术领域，本发明用偏振控制器和反馈单元对输出光的偏振态系统地进行控制，测量光器件或光介质的偏振相关损耗，或者光信号的偏振度。

主权项

1. 一种设备，其特征在于，包括：偏振控制模块，光从偏振控制模块通向光介质，偏振控制模块根据控制信号控制其接收到的光的偏振态；光探测器，接收通过光介质传输的光并产生一个探测输出；反馈单元，反馈单元获取探测器输出，并根据探测器的输出产生控制信号控制偏振控制模块以调节光的偏振，使得光探测器探测到透过的最大光信号和最小光信号。