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发明名称 TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME
摘要
申请公布号 KR20090044484(A) 申请公布日期 2009.05.07
申请号 KR20070110605 申请日期 2007.10.31
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 CHOI, SHIN GYU
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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