发明名称 一种测量和记录透明制件光学缺陷的方法
摘要 本发明公开的一种测量和记录透明制件光学缺陷的方法,是在透明制件的周边固持一用来确定缺陷尺寸的标尺;将摄像机、透明制件和参照物三者可移动地固定在同一直线的位置上,透明制件放置在摄像机和参照物之间;摄像机透过透明制件对焦在参照物上,对带有网格图案的参照物进行摄像,将透明制件运动过程中的光学畸变引起的网格图案变形记录在视频介质中,记录透明制件光学缺陷引起的网格图案的动态变异状态和范围。本发明采用摄像机透过透明制件对带有网格图案的参照物进行摄影,模拟人眼观察,用视频记录透明制件光学缺陷引起的网格图案的动态变异状态。拍摄的视频可复制并长期保存,通过录放系统在屏幕上实现透明制件光学缺陷的再现。
申请公布号 CN101424647A 申请公布日期 2009.05.06
申请号 CN200810046599.7 申请日期 2008.11.19
申请人 成都飞机工业(集团)有限责任公司 发明人 田荣
分类号 G01N21/958(2006.01)I 主分类号 G01N21/958(2006.01)I
代理机构 成飞(集团)公司专利中心 代理人 郭纯武
主权项 1. 一种测量和记录透明制件光学缺陷的方法,具有如下特征:(1)在透明制件的周边固持一用来确定缺陷尺寸的标尺;(2)将摄像机、透明制件和参照物三者可移动地固定在同一直线的位置上,透明制件放置在摄像机和参照物之间;(3)摄像机透过透明制件对焦在参照物上,对带有网格图案的参照物进行摄像,将透明制件运动过程中的光学畸变引起的网格图案变形记录在视频介质中,记录透明制件光学缺陷引起的网格图案的动态变异状态和范围。
地址 610092四川省成都市青羊区黄田坝