发明名称 形成存储单元及周边电路的方法
摘要 本发明是有关于一种形成存储单元及周边电路的方法,是先提供一衬底,此衬底具有周边电路区及存储单元区。然后,在衬底上依序形成衬垫层和掩膜层,以便在存储单元区定义数个沟道区,再在周边电路区定义主动区。之后,在主动区间形成场氧化层,并在沟道区间的衬底中植入杂质,接着在沟道区间形成存储单元间隔离层,且杂质往下趋入形成埋入式扩散区域。接着,去除掩膜层及衬垫层,而后在存储单元区的衬底上形成储电材料层以及字线。本发明因为先进行存储单元间隔离层与埋入式扩散区域的制作,再形成储电材料层,所以可提升元件可靠度。
申请公布号 CN100485906C 申请公布日期 2009.05.06
申请号 CN200510098327.8 申请日期 2005.09.07
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 金锺五;刘承杰
分类号 H01L21/8239(2006.01)I 主分类号 H01L21/8239(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿 宁;张华辉
主权项 1、一种形成存储单元的方法,其特征在于其包括以下步骤:提供一衬底;在该衬底上形成一衬垫层;在该衬垫层上形成一掩膜层,以便在该衬底中定义多个沟道区,其中该掩膜层的厚度大于该衬垫层的厚度;在该些沟道区间的该衬底中植入多个杂质;以该掩膜层及该衬垫层为掩膜,在该些沟道区间的该衬底上形成多个存储单元间隔离层,使该些杂质往下趋入该衬底内,形成多条埋入式扩散区域;去除该掩膜层及该衬垫层;在该衬底上形成一储电材料层覆盖该衬底及该些存储单元间隔离层;以及在该储电材料层上形成多条字线。
地址 中国台湾