发明名称 |
防电磁辐射眼镜屏蔽效能的测试方法及实现该方法的装置 |
摘要 |
本发明涉及一种用远场法测量涂有防电磁辐射的涂料的电磁屏蔽效能的测试方法,还涉及实现该方法的装置。防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能测试方法,其特征在于,先测出所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层的表面电阻R<sub>S</sub>,得出其表面电阻率ρ<sub>S</sub>;然后将表面电阻率ρ<sub>S</sub>代入公式得到屏蔽效能SE。其表面电阻率ρ<sub>S</sub>的测试方法采用圆环法。本发明通过非破坏性方法测试材料的表面电阻率,进而得到屏蔽效能,不需要专门的测试场地,测试设备相对也较廉价,无需昂贵的网络分析仪,大大降低了仪器设备费用;与近场测试相比,测试的不确定度大大减小,测试重复性好。 |
申请公布号 |
CN101424719A |
申请公布日期 |
2009.05.06 |
申请号 |
CN200710047646.5 |
申请日期 |
2007.10.30 |
申请人 |
上海翰纳森制衣有限公司 |
发明人 |
黎国栋;许涛芳 |
分类号 |
G01R29/08(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R29/08(2006.01)I |
代理机构 |
上海天翔知识产权代理有限公司 |
代理人 |
朱妙春 |
主权项 |
1、防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)测出所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层的表面电阻RS,得出所述防电磁辐射涂层的表面电阻率ρs;2)将步骤1)中所得到的表面电阻率,代入以下公式得到屏蔽效能SE式中Zo为空间波阻抗,其值为377Ω。 |
地址 |
200070上海市闸北区恒丰北路108号3号楼302室 |