| 发明名称 | 测试探针及使用其的电性连接方法 | ||
| 摘要 | 本发明是有关于一种测试探针及使用其的电性连接方法。所述测试探针，包括一杆体以及多个爪。杆体的每个横截面具有实质上相同的形状及尺寸，而这些爪一体成形于杆体的一端。这些爪在杆体的任一个横截面的正投影不超过此横截面的轮廓。藉由测试探针的这些爪来接触电路板的测试垫上的焊料凸块能够提高电路板的测试良率。 | ||
| 申请公布号 | CN101424703A | 申请公布日期 | 2009.05.06 |
| 申请号 | CN200710164386.X | 申请日期 | 2007.10.30 |
| 申请人 | 仁宝电脑工业股份有限公司 | 发明人 | 蔡荣儒;吴家龙;颜晋乾;李琇凤 |
| 分类号 | G01R1/067(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/067(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿 宁;张华辉 |
| 主权项 | 1、一种测试探针，其特征在于，包括：一杆体，其每个横截面具有相同的形状及尺寸；以及多个爪，一体成形于该杆体的一端，其中所述爪在该杆体的任一个横截面的正投影不超过该横截面的轮廓。 | ||
| 地址 | 中国台湾台北市 | ||