| 发明名称 |
Optical waveform measurement system and optical waveform measurement method |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1972912(A3) |
申请公布日期 |
2009.05.06 |
| 申请号 |
EP20080002885 |
申请日期 |
2008.02.15 |
| 申请人 |
FUJITSU LIMITED |
发明人 |
FUTAMI, FUMIO;WATANABE, SHIGEKI |
| 分类号 |
G01J11/00;G01R13/34;H04B10/17;H04L7/00 |
主分类号 |
G01J11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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