一种探针塔、晶片测试承座与晶片测试系统

摘要

本发明揭露一种探针塔，用于晶片测试，包含：一圆形本体，配置有LCD测试区以及I/O测试区，且圆形本体具有一本体上座及一本体下座；多数群探针孔，配置在LCD测试区及I/O测试区，同时垂直贯穿本体上座及本体下座；以及多数群测试探针，配置在等探针孔内，以传递通过圆形本体的测试信号；多数群接地孔配置在I/O测试区；多数群接地针，以紧配方式嵌入于本体上座及本体下座其中之一的多数群接地孔，并电性导通至圆形本体，以将邻近的测试探针的噪声及漏电流接地；多数群间隔环，以绝缘材料制成，配置于探针孔的端部，以固定测试探针于圆形本体上，且提供测试探针及圆形本体的电性绝缘。

主权项

1、一种探针塔，用于晶片测试，包含：一圆形本体，配置有LCD测试区以及I/O测试区，且该圆形本体具有一本体上座及一本体下座；多数群探针孔，配置在该LCD测试区及I/O测试区，同时垂直贯穿该本体上座及本体下座；以及多数群测试探针，配置在该等探针孔内，用以传递通过该圆形本体的测试信号；其特征在于，多数群接地孔，配置在该I/O测试区；多数群接地针，以紧配方式嵌入于该本体上座及本体下座其中之一的多数群接地孔，并电性导通至该圆形本体，用以将邻近的测试探针的噪声及漏电流接地；多数群间隔环，以绝缘材料制成，配置于该等探针孔的端部，用以固定该等测试探针于该探针孔内，且提供该等测试探针及该圆形本体的电性绝缘。