发明名称 |
一种快速精确检测电磁继电器的磁路闭合的方法及其装置 |
摘要 |
本发明公开了一种快速精确检测电磁继电器的磁路闭合的方法及其装置,是在电磁继电器线圈上施加一个能使触点接通的动作电压,并保持一段时间后,MCU通过D/A输出一个0V的驱动电压供给电磁继电器的线圈;用电流采样电路获取线圈上对应于所施加电压变化状态的电流信号,并将该电流信号送至微处理器MCU处理成电流的数据或波形;微处理器MCU的处理单元对电流的数据或波形进行分析处理,电流波形中对应于线圈上释放的逐渐减小的电流出现拐点时,该电磁继电器磁路闭合,没有拐点出现时,该电磁继电器存在磁路未闭合。采用该方法,既能快速、精确地判断出电磁继电器的磁路闭合,又有操作简单,可实现自动测量的特点。 |
申请公布号 |
CN101424724A |
申请公布日期 |
2009.05.06 |
申请号 |
CN200710009739.9 |
申请日期 |
2007.10.30 |
申请人 |
厦门顶科电子有限公司 |
发明人 |
黄朝晖;郑锦义;曾建军 |
分类号 |
G01R31/327(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/327(2006.01)I |
代理机构 |
厦门市首创君合专利事务所有限公司 |
代理人 |
连耀忠 |
主权项 |
1. 一种快速精确检测电磁继电器的磁路闭合的方法,其特征在于:是在电磁继电器线圈上施加一个能使触点接通的动作电压,并保持一段时间后,MCU通过D/A输出一个0V的驱动电压供给电磁继电器的线圈;用电流采样电路获取线圈上对应于所施加电压变化状态的电流信号,并将该电流信号送至微处理器MCU处理成电流波形;微处理器MCU的中央处理单元对电流波形进行分析处理,电流波形中对应于线圈上释放的逐渐减小的电流出现拐点时,该电磁继电器磁路闭合;电流波形中对应于线圈上释放的逐渐减小的电流没有拐点出现时,该电磁继电器磁路未闭合。 |
地址 |
361000福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔岳路53号 |