发明名称 一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法
摘要 本发明公开了一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法,其特征在于检测器的位置和样品台均可绕样品台的圆心O点旋转,旋转的角度由微处理器CPU根据外接计算机的指令控制步进电机执行。测量时以空气作参比,记录、计算样品的反射率的绝对值。与现有技术相比,由于无多块反射镜的多次反射,使进入检测器的光能量强,仪器操作简便、高速,测量准确度高,重复性好。
申请公布号 CN100485364C 申请公布日期 2009.05.06
申请号 CN200510072536.5 申请日期 2005.05.10
申请人 上海光谱仪器有限公司 发明人 陈建钢;刘志高;黄蕾;边丽
分类号 G01N21/17(2006.01)I;G01N21/55(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 代理人 俞宗耀
主权项 1、一种光学参数绝对值测量仪,包括灯室(1)、单色器(3)、样品室(6)、样品检测装置(7),其特征在于所述样品检测装置(7)中检测器(12)的位置和样品台(9)均可绕样品台(9)的圆心O点旋转,所述检测器(12)由盘头螺钉(10)固定在角度调节旋转机构(16)上,所述角度调节旋转机构(16)通过联轴器(13)与第一步进电机(15)的轴相联,所述第一步进电机(15)接受仪器中微处理器CPU指令,控制所述检测器(12)绕样品台(9)的圆心O点旋转动作;所述样品台(9)通过沉头螺钉(17)固定在轴套(18)上,轴套(18)通过平头螺钉(19)与第二步进电机(20)的轴相连,第二步进电机(20)接受仪器中微处理器CPU指令,控制所述样品台(9)绕圆心O点旋转动作。
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