发明名称 |
应用有源式有机发光二极管阵列的像素电路的方法 |
摘要 |
检测有源式矩阵有机发光二极管内的所有驱动单元是否发生任何制造上的不良,以在制造过程之中,在有源式矩阵有机发光二极管形成发光层之前,提早找出发生制造不良的元件并过滤以减少制造之后段的有机材料损失及制造时间,并大幅增加制造优良率。被检测的有源式矩阵有机发光二极管中包含多个电压源,多个像素电极,与多个驱动单元,与像素电极一一对应。任一驱动单元中包含有一第一晶体管,一第二晶体管,与一存储电容,借助每一驱动单元内所有元件的检测结果以准确地找出发生制造不良的元件。 |
申请公布号 |
CN100486395C |
申请公布日期 |
2009.05.06 |
申请号 |
CN200510107014.4 |
申请日期 |
2005.09.27 |
申请人 |
中华映管股份有限公司 |
发明人 |
朱文国;安宝桢 |
分类号 |
H05B33/08(2006.01)I;G09G3/30(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
H05B33/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波;侯 宇 |
主权项 |
1. 一种应用有源式有机发光二极管阵列的像素电路的方法,其包含:提供一像素电极;提供一驱动单元,该驱动单元包含:一第一晶体管,包含一漏极,电连接到一数据电压源,以及一栅极,电连接到一栅极电压源;一第二晶体管,包含一栅极,电连接到该第一晶体管的源极,以及一源极,电连接到一像素电极;一电容,其第一端电连接到该第一晶体管的源极及该第二晶体管的栅极,第二端电连接到该第二晶体管的漏极或一第三电压源;以及当该第一晶体管导通,及该第二晶体管关断时,检测该电容两端的电位差。 |
地址 |
中国台湾台北市 |