发明名称 | 实时监测处理器内部状态的装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种实时监测微处理器内部状态的装置,在所述微处理器设计过程中,加入多个或多级局部监测器和一个全局监测器,将所述微处理器内部状态信息以固定周期循环串行输出到一位监测状态输出端口上;外部系统配置一个监测信号采集器,在所述微处理器的监测状态输出端口上采集信号,并通过移位寄存器,拼接为具有实际意义的处理器内部状态信息,最终显示在前端PC机上。本发明通过在微处理器设计阶段增加少量的硬件开销,支持芯片实际运行模式下对微处理器内部状态的实时可观察性,弥补了传统的芯片可测性设计技术的不足。 | ||
申请公布号 | CN100485635C | 申请公布日期 | 2009.05.06 |
申请号 | CN200610118443.6 | 申请日期 | 2006.11.17 |
申请人 | 上海高性能集成电路设计中心 | 发明人 | 胡向东;董建萍 |
分类号 | G06F11/32(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/32(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 1、一种实时监测微处理器内部状态的装置,包括微处理器内部的状态监测器、外部系统中的监测信号采集器、前端PC机,其特征在于:在所述的微处理器中,加入多个或多级局部监测器和一个全局监测器,将所述的微处理器内部状态信息以固定周期循环串行输出到一位监测状态输出端口上;所述的监测信号采集器,在所述的微处理器的监测状态输出端口上采集信号,并通过移位寄存器,拼接为处理器内部状态信息,最终显示在前端PC机上。 | ||
地址 | 201204上海市浦东新区张衡路428号 |