发明名称 导电粒子压痕之检测装置及方法
摘要 一种导电粒子压痕之检测装置,用以检测导电粒子之压痕状态,包括第一基板;多个第一金属垫位于第一基板之讯号传输区;至少一个测试垫位于第一基板之非讯号传输区;第二基板;多个第二金属垫,位于第二基板且对应第一金属垫;测试条,位于第二基板且对应至少一个测试垫;以及异方性导电胶,接合第一基板与第二基板。在此亦揭露一种导电粒子压痕状态之检测方法。
申请公布号 TW200918913 申请公布日期 2009.05.01
申请号 TW096139275 申请日期 2007.10.19
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 陈建良;周诗频
分类号 G01R31/02(2006.01) 主分类号 G01R31/02(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号