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经营范围
发明名称
一种时域反射仪的测试系统与方法
摘要
一种TDR测试方法,包含储存对一电子元件进行TDR测试后所产生的测试资料,显示此测试资料,找出测试资料的异常部分而这些异常部分对应于受测电子元件的缺陷位置,修改测试资料的异常部分,及计算修改后的测试资料来决定是否符合预定的标准需求。
申请公布号
TW200918907
申请公布日期
2009.05.01
申请号
TW096150723
申请日期
2007.12.28
申请人
辉达公司
发明人
陈铭楷;苏柏瑞
分类号
G01R23/00(2006.01)
主分类号
G01R23/00(2006.01)
代理机构
代理人
蔡滨阳
主权项
地址
美国
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