发明名称 基于多孔径拼接技术的圆柱度非接触测量方法和系统
摘要 本发明涉及一种基于多孔径拼接技术的非接触圆柱度测量方法和系统。该系统主要由数字光栅投射系统、图像采集系统、多视角重叠扫描机构及控制系统、计算机软件处理系统组成。测量首先对系统进行深度和横向标定,然后,通过多视角重叠扫描机构进行被测圆柱各个视角的条纹图像采集,经过图像处理后,获得各视角三维数据。对各视角三维数据利用多孔径拼接技术实现完整的圆柱面形拼接,从而依据GPS(几何产品技术规范)实现圆柱度精确评定。该系统可以实现基于多孔径拼接技术的圆柱度非接触式测量和评定,有效地解决了目前圆柱度测量存在的采样点不足、评定结果不统一等问题。测量系统能够达到较高的测量精度,且具有较好的重复性。
申请公布号 CN101419063A 申请公布日期 2009.04.29
申请号 CN200810201977.4 申请日期 2008.10.30
申请人 上海大学 发明人 陈明仪;郑鹏;郭红卫;于瀛洁;周文静
分类号 G01B11/25(2006.01)I 主分类号 G01B11/25(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 代理人 何文欣
主权项 1. 一种基于多孔径拼接技术的圆柱度非接触测量方法,其特征在于首先对测量系统进行标定,随后进行图像采集及条纹图像处理,通过控制二维图像传感器和被测圆柱体的相对运动进行重叠扫描,依次获得被测圆柱体的多个单视角面形数据;其次,基于多孔径拼接融合技术实现多视角面形数据的精确拼接,获得整体圆柱面形数据;进而,依据几何产品技术规范GPS关键技术设计检验操作算子实现圆柱度的数字化评定,并参照提出圆柱度测量面形半径误差评定指标。
地址 200444上海市宝山区上大路99号