发明名称 并行列扫描光谱型表面等离子体共振成像方法及装置
摘要 本发明涉及并行列扫描光谱型表面等离子体共振成像方法及装置,其方法是:将宽带光源发出的光束变为一条细线形光束,使该细线形光束照射在SPR发生装置上,该装置出射光束经色散后,由二维光电探测装置探测,获得被测平面被照明的一条线形区域内的SPR光谱信息;平移该装置,用所述细线型光束扫描整个被测量平面,获得整个被测平面的全部列的SPR光谱信息;由计算机对全部列SPR光谱图像信息进行运算、处理,得到该装置中整个被测平面的折射率信息,生成一幅二维图片。本方法可得到直观的二维折射率分布信息,具有很高的折射率分辨率;由于采用列扫描技术,具有大信息吞吐量的特点,广泛用于生物、化学领域,尤其适合各种生物芯片的检测。
申请公布号 CN100483110C 申请公布日期 2009.04.29
申请号 CN200510036232.3 申请日期 2005.08.03
申请人 清华大学深圳研究生院 发明人 刘乐;何永红;郭继华;马辉
分类号 G01N21/41(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G06K9/00(2006.01)I;G06F19/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 深圳市汇力通专利商标代理有限公司 代理人 王锁林
主权项 1、一种并行列扫描光谱型表面等离子体共振成像方法,其特征是包括如下步骤:a、将宽带光源发出的光束转变成一条细线形光束,使所述细线形光束照射在SPR发生装置上,该装置的出射光束经由一个色散装置进行色散后,由二维光电探测装置探测,获得该装置中被测平面被照明的一条线形区域内的一列SPR光谱图像信息,然后传输到计算机存贮;b、使所述SPR发生装置中的被测平面在该平面内沿垂直于照明区域的方向平移,通过所述的线形光束扫描整个被测平面,并在这个过程中用二维光电探测装置连续探测,获得整个被测平面的全部列SPR光谱图像信息;c、计算机对所述的全部列SPR光谱图像信息进行运算、处理,得到所述SPR发生装置中整个被测平面的折射率信息,并生成一幅二维折射率分布图片;其中,计算机计算、处理所述整个被测平面的全部列SPR光谱图像信息的过程包括以下步骤:1)、取其中一幅图片;2)、按照处理一列图像信息程序分析这幅图,得到一列折射率信息,具体包括以下步骤:2. 1)、把二维光电探测装置得到的一幅图,按照二维光电探测装置对不同波长的光谱响应曲线修正;2. 2)、取该图像的一行数据;2. 3)、拟合求得该行数据的最小值对应像素数;2. 4)、由像素数求得对应SPR共振波长;2. 5)、进而由SPR共振波长求得对应折射率;2. 6)、记录该行的折射率;2. 7)、取该图像的下一行数据,重复以上2.2)至2.6)的步骤,直至对图片所有行的数据处理完毕,这样就得到了一列折射率信息;3)、记录这列折射率信息;4)、重复以上1)至3)步骤,直至处理完所有图片,这样得到一个包含折射率信息的二维数组;5)、把折射率线性换算为灰度值,得到所测平面的定量折射率分布图。
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