发明名称 |
等离子体约束装置及等离子体处理装置 |
摘要 |
本发明公开了一种等离子体约束装置及等离子体处理装置,等离子体约束装置为空心柱状,侧壁上设有多个通孔,通孔的深度大于等离子体中带电粒子的平均自由程,通孔为圆孔或长条形孔。等离子体约束装置设于等离子体处理装置的上电极与下电极之间,并可以上下移动。当进行传片时,等离子约束装置升起;当传片结束时,等离子体约束装置降到合适位置,准备开始工艺。可以有效地把等离子体约束在上、下电极之间的工艺区域,减少反应室的颗粒污染以及延长非工艺区域部件的使用寿命。 |
申请公布号 |
CN101419904A |
申请公布日期 |
2009.04.29 |
申请号 |
CN200710176174.3 |
申请日期 |
2007.10.22 |
申请人 |
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
发明人 |
南建辉;宋巧丽 |
分类号 |
H01L21/00(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;H01L21/3065(2006.01)I;H01L21/31(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I;H01L21/285(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I;C23F4/00(2006.01)I;C23C16/513(2006.01)I;H01J37/32(2006.01)I;H05H1/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京凯特来知识产权代理有限公司 |
代理人 |
赵镇勇 |
主权项 |
1、一种等离子体约束装置,其特征在于,该装置为空心柱状,包括侧壁,所述侧壁上设有多个通孔,所述通孔的深度大于等离子体中带电粒子的平均自由程。 |
地址 |
100016北京市朝阳区酒仙桥东路1号M5座2楼 |