可分离介质表层与深层信息的光学检测方法

摘要

本发明涉及一种光学检测方法，特别涉及一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法。为实现非接触测量奠定了基础。它是由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上，经过接收单元处理后，由检测器完成检测；测量系统可以实现介质表层与深层信息的分离；而且光学测头和被测样品组织是非接触的。在本发明中，入射单元和接收单元可以根据偏振法、挡光法、空间成像法、布儒斯特角法等不同的方法进行设置。

主权项

1. 一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法，由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上，经过接收单元处理后，由检测器完成检测，其特征是：在入射单元和接收单元之间采用挡光法，对介质表层与深层信息进行分离，而且光学测头和被测样品组织是非接触的，所述的挡光法是；为接收样品深层信息，采用挡光板(10)垂直放置于被测样品之上，尽量靠近被测样品，但不接触，入射光和接收光路分别处于挡光板的两侧，反射光中经样品表面反射的部分都处于入射光的同一侧，因此被挡光板阻断；在接收单元中，经样品深层的反射光绕过挡板，在接收侧反射出来，由会聚透镜(7)收集，会聚到检测器(9)上；检测器上收集到的光都来自于样品深层的反射光，而消除了表面反射光的干扰；为接收表面反射的信息采用挡光板(39)，其中心开有极小的小孔，将其覆盖在被测样品之上方，尽量靠近被测样品，但不接触；入射光点穿过小孔，经小孔出射的反射光基本不包含深层后向散射光，而只含有表面反射光，从而消除了样品深层后向散射光的干扰。