| 发明名称 | 系统测量方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种系统测量方法及装置，该方法包括：在测量周期内，根据物理层上报的一个或多个空闲时间，在各个空闲时间内先后调度如下过程：BSIC重验证过程，用于对需要进行BSIC重验证的小区进行重验证；载波RSSI的测量过程，用于对小区的载波RSSI进行测量；解调BSIC过程，用于对小区进行初始同步。通过本发明，缩短了系统测量时间，进而缩短了系统间的重选时间而提高了系统的性能。 | ||
| 申请公布号 | CN101420723A | 申请公布日期 | 2009.04.29 |
| 申请号 | CN200810181220.3 | 申请日期 | 2008.11.14 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 韦玉珍 |
| 分类号 | H04W36/00(2009.01)I;H04W36/14(2009.01)I | 主分类号 | H04W36/00(2009.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 尚志峰;吴孟秋 |
| 主权项 | 1. 一种系统测量方法，其特征在于，包括：在测量周期内，根据物理层上报的一个或多个空闲时间，在各个空闲时间内先后调度如下过程：BSIC重验证过程，用于对需要进行BSIC重验证的小区进行重验证；载波RSSI的测量过程，用于对小区的载波RSSI进行测量；解调BSIC过程，用于对小区进行初始同步。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区科技南路55号 | ||