| 发明名称 | 使用2-PI滑动检测粗调锁相环(PLL)合成器的系统和方法 | ||
| 摘要 | 提供了一种用于在锁相环(PLL)合成器(200)中粗调至少一个压控振荡器(VCO)(211)的系统，包括相位频率检测器(PFD)，用于确定VCO频率和参考频率之间的相位差，如果VCO频率和参考频率至少具有2π弧度的相位差则提供误差信号。然后一个监视器(215)用于跟踪PFD所产生的误差信号的数量。VCO的自由运行频率可以在监视器电路到达某一预定水平时被粗调。在使得PLL能够被粗调方面本发明提供了很大的好处，以使得PLL的VCO不管影响电路运行的运行因素如何都能够保持在运行范围以内。 | ||
| 申请公布号 | CN100483947C | 申请公布日期 | 2009.04.29 |
| 申请号 | CN200480004058.8 | 申请日期 | 2004.02.04 |
| 申请人 | 飞思卡尔半导体公司 | 发明人 | 大卫·B·哈尼施费格尔;丹尼尔·E·布鲁斯基;弗雷德里克·L·马丁 |
| 分类号 | H03L7/085(2006.01)I;H03L7/089(2006.01)I;H03L7/099(2006.01)I;H03L7/10(2006.01)I;H03L7/16(2006.01)I | 主分类号 | H03L7/085(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李镇江 |
| 主权项 | 1. 一种用于在锁相环(PLL)合成器中粗调至少一个压控振荡器(VCO)的系统，包括：相位频率检测器(PFD)，用于确定VCO频率和参考频率之间的相位差，且如果VCO频率和参考频率至少具有2π弧度的相位差则提供误差信号；监视器，用于跟踪PFD所产生的误差信号的数量；以及其中VCO的自由运行频率可以在监视器电路到达某一预定水平时被粗调。 | ||
| 地址 | 美国得克萨斯 | ||