发明名称 |
轧制过程中测量并调整轧辊表面不平度缺陷的方法 |
摘要 |
本发明提供的是一种轧制过程中测量并调整轧辊表面不平度缺陷的方法。将一个上面设置有检测轧辊探测头的机架固定在运动薄膜的上方并与运动薄膜之间间隔一定距离,探测头的运动方向垂直于薄膜运动方向,并在薄膜边缘处改变方向;调整支架上探测头的起始测量位置并调整探测头和薄膜的运动速度;进行测量得到测量点处的坐标和薄膜厚度;建立宽等于轧辊长度,长等于轧辊圆周长的矩形区域,将薄膜厚度数据叠加到构造的矩形区域中;对测得的薄膜厚度数据拟和,找到轧辊表面的不理想区域进行调整。本发明能够实现实时遍历测量,由测量数据得到轧辊表面每一点处的不平度情况,从而对轧辊表面做出调整,提高产品质量和生产效率。 |
申请公布号 |
CN100482366C |
申请公布日期 |
2009.04.29 |
申请号 |
CN200710144336.5 |
申请日期 |
2007.09.20 |
申请人 |
哈尔滨工程大学 |
发明人 |
张曙;李玉梅 |
分类号 |
B21B38/00(2006.01)I;B21B38/12(2006.01)I |
主分类号 |
B21B38/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种轧制过程中测量并调整轧辊表面不平度缺陷的方法,其特征是:将一个上面设置有检测轧辊探测头的机架固定在运动薄膜的上方并与运动薄膜之间间隔一定距离,探测头的运动方向垂直于薄膜运动方向,并在薄膜边缘处改变方向;调整机架上的探测头的起始位置;调整探测头和薄膜运动速度使<img file="C200710144336C00021.GIF" wi="156" he="112" />等于自然数,其中W为薄膜宽度,即辊的长度,R为辊的半径,v<sub>x</sub>,v<sub>y</sub>分别为薄膜和探测头的运动速度;沿薄膜运动的反方向设为x轴,探测头运动方向设为y轴,以探测头在薄膜上的起始测量点为坐标原点,测量得到测量点处的坐标(x,y)和薄膜厚度;建立宽等于轧辊长度,长等于轧辊圆周长的矩形区域,将n*2πR长度内的测量点坐标(x,y)分别变换为(x<sub>1</sub>,y),x<sub>1</sub>是将x对2πR进行求模运算得到的,n为测量长度为轧辊周长的倍数,按变换后的坐标将薄膜厚度数据叠加到构造的矩形区域中;对测得的薄膜厚度数据拟和,找到轧辊表面的不理想区域进行调整。 |
地址 |
150001黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号1号楼哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室 |