发明名称 |
减少编程干扰的影响 |
摘要 |
未选定(或禁止的)非易失性存储元件在旨在编程另一非易失性存储元件的编程操作期间的非有意编程被称作“编程干扰”。提出一种用于编程及/或读取非易失性存储装置的系统,所述系统减少编程干扰的影响。在一个实施例中,在编程过程期间针对特定字线(或存储元件的其它分组)使用不同验证电平。在另一实施例中,在读取过程期间针对特定字(或存储元件的其它分组)使用不同比较电平。 |
申请公布号 |
CN101416253A |
申请公布日期 |
2009.04.22 |
申请号 |
CN200780009445.4 |
申请日期 |
2007.03.22 |
申请人 |
桑迪士克股份有限公司 |
发明人 |
格里特·简·赫民克 |
分类号 |
G11C16/10(2006.01)I;G11C16/34(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
刘国伟 |
主权项 |
1. 一种编程非易失性存储器的方法,其包含:使用一群组目标电平来编程一群组非易失性存储元件;及使用一特定组目标电平来编程一特定组非易失性存储元件,以使得在完成编程过程后所述特定组非易失性存储元件的阈值电压分布在所述群组非易失性存储元件的对应阈值电压分布内,所述特定组目标电平中的至少一者低于所述群组目标电平中的对应目标电平。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |